Nový spektrometr představuje podstatný skok v energo dispersní fluorescenční technologii. Umožňuje průlomové přednosti v oblasti víceprvkové analýzy hlavních, ale i stopových koncentrací prvků. Nové pokroky v buzení a detekci přináší výjimečnou citlivost (limity detekce), přesnost a správnost měření. Excelentní přístroj vyniká hlavně v oblasti kritických úloh - od rychlých přehledových analýz, až k přesnému řízení jakosti výrobků. Různé verze provedení maximalizují výkon pro vybrané elementární skupiny specifických matric.
Klíčové vlastnosti a široké spektrum použití
Overview Measure lower than ever and faster than ever: Adaptive excitation, advanced tube design and high-count throughput detection system result in outstanding low detection limits for a wide range of elements at even shorter measurement times (up to a factor 2). Improved accuracy based on optimized spectra handling: Master the unknown using the benchmark in ED-XRF screening, SPECTRO’s TurboQuant II application package for the unprecedented ability to analyze unknown samples, whether they are liquids, solids or powders - whether they are tree leaves, plastics, oil, granite or glass…
Application range extended to multilayer analysis, up to 8 layers and up to 55 elements. The SPECTRO XEPOS spectrometer represents an analytical performance in a class by itself in energy dispersive X-ray fluorescence technology. It provides breakthrough advances in multi-elemental analysis of major, minor, and trace element concentrations. New developments in signal processing and spectra handling deliver remarkable gains in precision and accuracy. The amazing SPECTRO XEPOS excels at critical tasks from rapid screening analysis to precise product quality control. Apply it for at-line processing in a variety of industries, for geology and mining, for environmental and waste monitoring, and for research and academia. Different versions maximize performance for selected elemental groups in specific matrices.
An innovative X-ray tube and unique new adaptive excitation technology furnish the highest possible sensitivity, optimized to target elements of choice. The new SPECTRO XEPOS spectrometer represents a quantum leap in energy dispersive X-ray fluorescence technology. It provides breakthrough advances in multi-elemental analysis of major, minor, and trace element concentrations. New developments in excitation and detection deliver outstanding sensitivity and detection limits - yielding remarkable gains in precision and accuracy. The amazing SPECTRO XEPOS excels at critical tasks from rapid screening analysis to precise product quality control. Apply it for at-line processing in a variety of industries, for geology and mining, for environmental and waste monitoring, and for research and academia. Different versions maximize performance for selected elemental groups in specific matrices.
Technické specifikace a konfigurace
- Excitation X-ray tube with thick binary Pd/Co alloy anode with air-cooling Max. power: 50 W Max. voltage: 50 kV (60 kV in XEPOS HE)
- Adaptive excitation system with optimized filters
- HAPG polarizer for improved sensitivity of elements in the range Na-Cl (in XEPOS C, P, HE)
- Bandpass filter for improved performance for elements in the range K-Mn (in XEPOS P, HE)
- Detection SDD with Peltier cooling
- Large detector area (30 mm2, active area 20 mm2)
- Spectral resolution (FWHM) ≤ 130 eV for Mn K-alpha
- Input count rate up to 1,000,000 counts per second
- Detector filter changer for active pile-up reduction (optional in XEPOS P, standard in XEPOS HE)
Environmental Conditions Room temperature: 10-35 °C (50-95 °F). Dimensions 465 (H) x 618 (W) x 730 (D) mm. Weight approx. 65 kg. Electrical Requirements 90 - 253 VAC; 50/60 Hz 16 A (slow blow fuse).
Unikátní software a rychlá analýza: Redesignovaný provozní software poskytuje ověřenou snadnost a sílu, zatímco jedinečný nový TurboQuant II software rychle a přesně analyzuje prakticky jakýkoli neznámý kapalný, práškový nebo pevný vzorek. Nová řada SPECTRO XEPOS ED-XRF spektrometrů je k dispozici okamžitě od společnosti SPECTRO Analytical Instruments. Simultánní energie-disperzní rentgenová fluorescenční spektrometrie XEPOS P umožňuje identifikaci prvků v rozsahu Na - U a multiprvkovou nedestruktivní semikvantitativní a kvantitativní analýzu u různých typů látek s neznámou matricí.
Buzení záření je generováno nízkovýkonovou rentgenkou s Pd/Co anodou chlazenou vzduchem a adaptovano podle stanovovaných skupin prvků. Charakteristické fluorescenční záření je zpracováváno termoelektricky chlazeným SDD detektorem, měřicí prostor je při stanovování lehkých prvků proplachován heliem. Přístroj je vybaven karuselem pro 12 kyvet s průměrem 32 mm, je však možné měřit i velké vzorky.
Další související přístroje a souvislosti v oboru
Spectro ARCOS SOP je optický emisní spektrometr s radiálním pozorováním indukčně vázaného plazmatu. Přístroj je vybaven optikou v Paschenově-Rungeho montáži s využitím Rowlandovy kružnice osazené 32 lineárními CCD detektory. Optika je hermeticky uzavřená a naplněná argonem, což umožňuje vysokou optickou propustnost ve vakuové UV oblasti a stanovení nekovů bez interferencí. Přístroj umožňuje simultánní snímání spektra v oblasti 130 až 770 nm a rychlé zpracování tranzientního signálu (10 Hz).
Spectro ARCOS MultiView je optický emisní spektrometr s možností plnohodnotného radia‑ního nebo axiálního pozorování, což umožňuje analýzu těžkých matric i stopových koncentrací s detekčními limity v rozsahu 10-2 - 10-7 mg/kg. Přístroj s optikou v Paschenově-Rungeho montáži umožňuje simultánní snímání spektra 130-770 nm a robustní generátor o výkonu 500 - 2000 W. ETV 4000c je jednotka pro elektrotermické odpařování vzorků, jejíž pícka dosahuje až 3000 °C a pracuje v argonové atmosféře s doplněným freonem pro převedení prvků do těkavějších forem.
UNICUBE (Elementar, Německo) umožňuje simultánní stanovení uhlíku, vodíku, dusíku a případně síry v různých typech materiálů; pracuje na principu spalování a převádí prvky na plyny s případným IR detektorem. Pro přesné vážení vzorků slouží šestimístné mikrováhy Cubis MSX (Sartorius, Německo). Přesnost stanovení CHNS je 0,1 % absolutní hodnoty, detekční limity od 50 ppm, pro S při použití IR detektoru od 2 ppm. Spectro ARCOS SOP a MultiView tak doplňují obraz analytických technik používaných v tomto oboru.
Podoby a rozšíření technologické vrstvy
Nové pokroky v buzení a detekci, stejně jako v generování a řízení paprsku, nadále zvyšují citlivost a rychlost analýzy. Vývoj v oblasti elektroniky a software umožňuje vysoce spolehlivou identifikaci složitých matric, a to včetně nejrůznějších vzorků, od listů stromů až po sklo a horniny.
tags: #edxs #spektrofotometr #xepos