Tunelový mikroskop elektronový a jeho historie, principy a využití

Historie elektronové mikroskopie začíná v inspiraci optických mikroskopů a potřebě vidět objekty mimo dosah světelné optiky. Hans Busch poukázal na podobnost chování světelných paprsků při průchodu čočkou a elektronových paprsků v magnetických polích; na jeho práci navázal F. Wolf, který vytvořil první elektronogram. Elektrony se chovají jako vlny a mají vlnovou délku srovnatelnou s rentgenovým zářením, což umožnilo dosáhnout mnohem vyššího rozlišení než u optických mikroskopů. První elektronový mikroskop s využitím elektromagnetických čoček postavili Max Knoll a Ernst Ruska v roce 1933 a brzy poté se rozvíjela technologie.

Rozlišovací schopnost elektronových mikroskopů závisí na použitém urychlovacím napětí a na konstrukci čoček. Elektrony s vysokou energií mají kratší vlnovou délku, takže mohou zobrazovat menší detaily než světlo; u TEM a SEM se dosahuje řádů až po atomární rozlišení. První komerční série elektronových mikroskopů s urychlovacím napětím kolem 80 kV byla vyráběna firmou Siemens od roku 1939; jejich rozlišovací schopnost byla kolem 1 nm. Postupně se vyvinuly další typy mikroskopů a s jejich rozvojem se otevřely nové discipliny, od zkoumání krystalické mříže po studium biologických vzorků.

V Brně se vývoj elektronové mikroskopie významně prosadil díky týmu Aleše Bláhy a Armina Delonga; v roce 1951 uvedli do sériové výroby první elektronový mikroskop Tesla BS 241 a v roce 1958 získal Tesla BS 242 na EXPO v Bruselu zlatou medaili. Zkušenosti a potenciál československých expertů zapůsobil na vznik třech hlavních světových výrobců: Tescan, Thermo Fisher Scientific a Delong Instruments, a dnes tvoří třetinu světové produkce elektronových mikroskopů.

Podstata mikroskopů spočívá v tom, že elektronový paprsek je řízen a zaměřován na vzorek v prostředí se specifickými podmínkami a zobrazuje se pomocí detektoru a zobrazovacího systému. U TEM elektrony procházejí vzorkem a vytvářejí obraz na základě průchodu; u SEM zobrazení vzniká z odražených elektronů a obraz je zvětšen na monitoru. Pro STEM kombinuje výhody TEM a SEM tím, že skenuje vzorek průběžně a posouvá se do transmisi. Základní princip tunelovacího jevu využívaného v STM spočívá v kvantovém tunelování, díky němuž proud teče mezi hrotem a vzorkem i bez fyzického kontaktu; aby byl tunelový proud konstantní, udržuje se konstantní vzdálenost hrotu od povrchu, což umožňuje získat trojrozměrné informace o povrchu.

Principy a hlavní typy elektronových mikroskopů

Optické mikroskopy jsou omezeny Abbeovou mezí rozlišení dle vlnové délky světla; elektronový paprsek má podstatně kratší vlnovou délku a umožňuje redukovat tuto mezeru na řády subnanometru. Elektrony jsou řízeny elektromagnetickými čočkami a obraz je vzniklý buď průchodem elektronů vzorkem (TEM), nebo odrazem elektronů od povrchu (REM). Ve variantách STEM a SAED lze získat detailní informace o krystalografické orientaci a struktuře.

Transmisní elektronový mikroskop (TEM) je určen pro tenké vzorky (přibližně do 100 nm) s vysokým zvětšením a rozlišovací schopností; pro biologické objekty bývá dosažitelná rozlišovací schopnost kolem 2 nm, ale TEM může dosahovat až 0,1 nm u vybraných technologií. Skenovací elektronový mikroskop (SEM) skenuje povrch svazkem elektronů a obraz vzniká z odražených elektronů; je široce využíván pro metalografické analýzy a chemickou analýzu díky EDX.

Rastrovací transmisní elektronový mikroskop (STEM) spojuje principy TEM a SEM s možností lokálního průřezu a analýzy malých oblastí krystalů. Hlavní částí každého mikroskopu je mechanický systém (tělo a pohonné mechanismy), elektronický systém pro měření vzdálenosti a zobrazovací systém; tunelovací proud je řízen elektronickým zpětnovazebním obvodem a hrot je řízen počítačem, aby skenoval povrch.

Příprava vzorků a technické detaily

U TEM i SEM je vzorek buď tenký pro průchod elektronů, nebo pokrytý tlustou vrstvou těžkého kovu pro SEM, aby se zvýšila kontrast. Pro SEM je typická příprava vzorku spočívající v nanesení tenké vrstvy kovu a následném skenování. Pro TEM je potřeba tenké řezy a vzorek bývá vystaven vysokým energiím k elektronům pro průchod skrz vzorek. V praxi mohou elektronové mikroskopy zobrazovat i krystalické dislokace, hranice zrn a jiné mikrostruktury.

Třetí významnou třídou moderní mikroskopie je AFM ( Atomic Force Microscope ), který mapuje povrch pomocí hrotu zavěšeného na pružném raménku a vychyluje jej v závislosti na silách mezi hrotem a povrchem. AFM dosahuje extrémně vysokého rozlišení a dokáže sledovat jednotlivé atomy. STM (Scanning Tunneling Microscope) je další metodou SPM a umožňuje zobrazit povrch pevné látky v atomárním rozlišení díky tunelovému jevu; hrot je na povrchu extrémně ostrý, často jen s jedním atomem na špičce.

Historie v Brně a okolí ukazuje, že vývoj nebyl jen teoretický, ale i průmyslově realizovaný s produkcí v lokálních firmách a spoluprací institucí. V Brně se díky TESLA Brno a dalším institucím podařilo vybudovat silnou tradici, která dnes pokračuje u světových hráčů jako Tescan, Thermo Fisher Scientific a Delong Instruments.

Aplikace a současné trendy

Využití elektronových mikroskopů je široké: od medicínských a farmaceutických výzkumů, archeologie, kriminalistiky až po letecký průmysl. Dnes je možné propojit elektronovou mikroskopii s počítačovou analýzou a strojovým učením pro zpracování obrazů, kde deep learning a konvoluční sítě umožňují lepší interpretaci dat a odhalování vzorů na atomární úrovni. Počítačové algoritmy dokáží zlepšit kvalitu snímků a pomoci identifikovat konkrétní molekuly nebo struktury na snímcích.

V souvislosti s rozlišením na úrovni atomů a s vývojem technologií, jako jsou nanosystémy a plazmony, se zvyšuje význam nízkoteplotních plazmat a řízené nanostrukturování pro budoucí mikro- a nanoelektroniku. Evropské projekty XFEL a další vysoce výkonné zdroje rentgenového záření doplňují elektronové mikroskopy v komplexním obrazu materiálů na atomární úrovni.

Praktická poznámka: tunelový mikroskop nepracuje s proudem mezi hrotem a vzorkem, pokud není dostatečné napětí a protékající proud; tunelový jev umožňuje vznik lokálních elektrických polí, která vedou k terénním interakcím; signál zobrazení je založen na změně výšky hrotu a na konstantním tunelovém proudu.

Vizualizace v textu vedou k pochopení, že vlnová délka elektronů je zásadní pro rozlišení, a to umožňuje posun proti klasické optické mikroskopii. Zmínka o elektronech a jejich vlnové povaze doplňuje obraz o tom, proč je rozlišení elektronových mikroskopů tak výrazně lepší.

V současnosti existují tři hlavní světové výrobci elektronových mikroskopů v Brně a okolí, kteří zajišťují přístroje pro výzkum v medicíně, archeologii, kriminalistice i průmyslu.

  1. Principy rozdělují mikroskopy podle způsobu zobrazování: TEM, SEM a STEM.
  2. Hlavní rozdíly spočívají v tom, zda vzorek prochází paprskem, či je povrch zobrazován odraženými elektrony.
  3. Rozlišení elektronových mikroskopů je výrazně lepší než optických microskopů díky kratší vlnové délce elektronů.
přehled zobrazovací techniky elektronových mikroskopů

Nejděsivější scénář kvantové fyziky

Mezi klíčové fenomény, které se v elektronové mikroskopii často zkoumají, patří difrakce elektronů, SEED a SAED, které umožňují studovat krystalografickou orientaci a detaily struktury v malých vzorcích. Sníhající, monochromatický obraz z elektronového mikroskopu vyžaduje zvláštní zpracování a často postprocesing s počítačovými algoritmy.

Informativní poznámka: Laserové a XFEL projekty slouží k doplnění obrazových informací na atomární úrovni a vývoji nových materiálů a technologií.

Na závěr lze říci, že elektronová mikroskopie poskytuje hluboký pohled na vnitřní struktury materiálů, který je nedostupný optickými metodami, a to díky její vysoké rozlišovací schopnosti a programové podpoře umělé inteligence pro zpracování obrazů.

Shrnutí klíčových pojmů

  • Rozlišení závisí na vlnové délce a urychlovacím napětí.
  • TEM zobrazuje průchod elektronů vzorkem; SEM zobrazuje odražené elektrony; STEM kombinuje přístup TEM a SEM.
  • STM využívá tunelový jev k dosažení atomárního rozlišení; AFM mapuje povrch pomocí sil působících na ostrý hrot.
  • Česká republika má významný podíl na světovém vývoji elektronové mikroskopie díky Brnu a lokálním firmám.

Pro meta description a klíčová slova níže uvádím doplňkové texty.

tags: #tunelovy #mikroskop #elektronovy